С 16 по 21 сентября 2024 года на базе ИНТЦ «Интеллектуальная электроника – Валдай» проходил Чемпионат высоких технологий, в котором кафедра ФТТМ приняла активное участие. Совместно с представителями НИИ Молекулярной электроники (Зеленоград) преподаватели кафедры во главе с профессором Петровым М.Н. разработали конкурсное задание по компетенции «Синтез компактных моделей электронных компонентов и систем».
Девять конкурсантов выполняли пять модулей. Первый модуль был посвящен измерениям вольтамперных характеристик электронных компонентов схемы, второй – синтезу компактных моделей этих компонентов. Далее ребята моделировали работу цифрового устройства в соответствии с техническим заданием, проверяли его работоспособность, определяли параметры (быстродействие и потребляемую мощность) и оптимизировали их. На последнем модуле участники представляли результаты своей работы перед экспертами, а именно компактные модели электронных компонентов схемы, анализ влияния компонентов на параметры схемы и выводы по улучшению параметров.
Новгородскую область представлял студент ПТК Ярош Антон (эксперт-наставник – Гудков Г.В.). Индустриальные участники: конкурсант Корцов Дмитрий (магистрант направления Электроника и наноэлектроника, инженер-конструктор ЗАО НПК "Планета-Аргалл") и его эксперт-наставник Рычко А.Р.; конкурсант Свиридов Артём (магистрант направления Электроника и наноэлектроника, техник Дизайн-центра микроэлектроники НовГУ) и его эксперт-наставник Евстигнеев Д.А. Обязанности технического администратора площадки (ТАП) взял на себя Добрынин Андрей (студент направления Электроника и наноэлектроника, лаборант кафедры ФТТМ). Помогал ТАПу Романов Михаил (инженер кафедры ФТТМ). Главным экспертом выступила Телина И.С.
Наши магистранты в индустриальном зачете взяли серебро (Свиридов Артём) и бронзу (Корцов Дмитрий), с чем мы сердечно их поздравляем!
Огромную благодарность передаем индустриальному эксперту Нуштаеву Алексею (НИИМЭ) за вовлеченность в проведении соревнований, объективную оценку работ и поддержку конкурсантов.
Для студентов кафедры ФТТМ 16 ноября 2023 г. представитель НИИ Молекулярной Электроники (Москва) провел семинар на тему "Проектирование интегральных микросхем: от идеи до серийного производства".
Ведущий: Михайлов Виктор Юрьевич - инженер-конструктор 1 категории, отдел разработки интегральных схем НИИ Молекулярной Электроники.
26 апреля состоялось заседание секции "Электроника и наноэлектроника" на кафедре ФТТМ.
Список докладов
1. Драгуть Максим Викторович «СВЧ полевые транзисторы на основе эпитаксиальных структур GaAs»
2. Гребенников Василий Антонович «Изоляция силовых HEMT-транзисторов на основе GaN»
3. Осинний Никита Александрович «Проектирование контактного устройства для контроля параметров серийно-выпускаемых транзисторов 2Т3187А91»
4. Суетов Егор Сергеевич «Разработка технологии формирования низкоомного затвора полевого транзистора на кремнии»
5. Орлова Дарья Александровна «Конструктивно - технологические особенности МИС дециметрового диапазона»
6. Михайлова Светлана Анатольевна «Герметизация металло-керамических корпусов методом шовно-роликовой сварки с последующим контролем герметичности»
7. Зорин Виктор Александрович «Сборка оптических модулей для ресиверов, трансиверов и трансмиттеров»
8. Тимофеев Александр Михайлович «Исследование металлизации омических контактов на основе молибдена для СВЧ транзистора на нитриде галлия»
9. Огнев Даниил Дмитриевич «Формирование сквозных металлизированных отверстий для соединения металлизаций с лицевой и обратной сторонами полупроводникового кристалла»
10. Корцов Дмитрий Александрович «Анализ брака на фотолитографии и методы его устранения»
11. Пинахин Евгений Борисович «Разработка модуля для Cyclone V для обмена данными с NVMe SSD»
12. Верещагин Александр Андреевич «GPRS устройства сбора и передачи данных»
13. Самуйлова Ксения Дмитриевна «Микромеханические гироскопы»
14. Змановский Руслан Андреевич «Экстракция параметров варикапа из экспериментальных данных»
15. Кудрявцев Антон Алексеевич «Технология IPD СВЧ схем на полуизолирующей подложке GaAs»
16. Абышов Эльман Аиз оглы «Усовершенствование методик измерения параметров полупроводниковых структур на пластине»