Новости

25.05.2004  26-28 мая 2004 года в НовГУ пройдет 2-й научный семинар с международным участием «Современные методы анализа дифракционных данных (рентгенотопография, дифрактометрия, электронная микроскопия)».

26-28 мая 2004 года в НовГУ пройдет 2-й научный семинар с международным участием «Современные методы анализа дифракционных данных (рентгенотопография, дифрактометрия, электронная микроскопия)».

Организаторами семинара выступают НовГУ и Физико-технический институт РАН. Среди участников семинара ведущие специалисты 12 институтов РАН, 6 университетов, 5 научно-производственных организаций и 9 зарубежных учебных заведений и научных организаций из Испании, США, Кореи, Китая, Германии, Австралии, Японии и Украины.

Всего будет заслушано 38 докладов, из них 7 докладов представлено совместной с ФТИ научно-учебной лабораторией рентгенотопографических методов исследования материалов электронной техники нашего университета.

Семинар будет проходить в конференц-зале НовГУ (главный корпус). Открытие 26 мая 14.00.

«НовГУ-информ»

Служба новостей Новгородского университета