Работу новгородцев - считать успешной!

В преддверии нового 2004 года президент НовГУ имени Ярослава Мудрого А.Л. Гавриков получил письмо от директора отделения физики диэлектриков и полупроводников физико-технического института имени А.Ф. Иоффе Р. В. Парфеньева. Письмо представляет несомненный интерес для коллектива университета.

Глубокоуважаемый Анатолий Леонидович!

Прошло три года с момента образования совместной научно-учебной лаборатории рентгенотопографических методов исследования материалов электронной техники НовГУ им. Ярослава Мудрого и ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН. За это время лаборатория прошла период становления, окрепла и добилась высоких результатов. Среди них следует отметить следующие:

- защиту одной (А.Н. Буйлов, 2002 г.) и подготовку ещё двух (Ю.А. Дроздов, В.Г. Анисимов, 2003 г.) кандидатских диссертаций под руководством д.ф.-м.н. Л.Н. Данильчука;

- проведение Первого международного семинара "Современные методы анализа дифракционных данных" (ноябрь 2001 г.) с участием представителей 9 институтов РАН, 6 университетов и 3 научно-производственных организаций России, 4 университетов и институтов других стран (США, Англии, Армении и Украины) и подготовку следующего (май 2004 г.) с изданием сборника развёрнутых тезисов докладов;

- осуществление трёх стажировок сотрудников лаборатории в ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН;

- поступление в докторантуру ведущего электроника лаборатории А.О. Окунева;

- опубликование в ведущих журналах РФ более десяти статей;

- активное участие сотрудников в научных конференциях и семинарах разного уровня;

- получение 6 грантов на проведение фундаментальных исследований и стажировок (проект № 01.02.048 "Разработка методик регистрации и идентификации дефектов структуры монокристаллических полупроводников на основе явления аномального прохождения рентгеновских лучей" по подпрограмме 202 "Новые материалы" программы "Научные исследования высшей школы по приоритетным направлениям науки и техники" 2001-2002 гг., проект РФФИ № 02-02-17661а "Высокоразрешающая рентгеновская топография и дифрактометрия - современный инструмент исследования реальной структуры кристаллических материалов электронной техники", 2002-2004 гг., проект А.О. Окунева по конкурсу персональных грантов для молодых учёных 2001 г. "Количественная и качественная рентгенотопография дефектов структуры монокристаллических полупроводников на основе явления аномального прохождения рентгеновских лучей" (направление 3.9. Электроника и радиотехника), проект Ю.А. Дроздова по конкурсу персональных грантов для молодых учёных 2002 г. "Компьютерная обработка рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры полупроводников" (направление 3.9. Электроника и радиотехника), грант Ю.А. Дроздова как молодого исполнителя проекта РФФИ № 02-02-17661а, 2003 г., грант на проведение стажировки докторанта НовГУ им. Ярослава Мудрого А.О. Окунева в ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН в рамках ФЦП "Интеграция", направление 1.2. "Использование потенциала ведущих научных центров страны для стажировки молодых исследователей, аспирантов и докторантов высших учебных заведений", 2003 г.).

Руководство ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН считает перечисленные показатели лаборатории высокими, а работу лаборатории успешной. Особенно следует отметить, что в лаборатории активно развиваются новые методы цифровой обработки дифракционных изображений, нашедшие применение не только в физике, но и в медицине и контроле сельхозпродукции, и обозначившие формирование нового перспективного направления её деятельности. Полученные результаты были отмечены научным сообществом на семинарах и конференциях.

Учитывая выраженную в настоящее время тенденцию углубления кооперации академической и вузовской науки, в реализацию которой осуществляет свой вклад совместная лаборатория, для дальнейшей успешной работы лаборатории руководство ОФДП ФТИ РАН предлагает следующее:

- сохранить статус лаборатории как самостоятельного подразделения НовГУ им. Ярослава Мудрого на следующие три года (2004-2006 гг.);

- учесть при определении загрузки в НовГУ ведущих сотрудников лаборатории (В.А. Ткаля, А.О. Окунева, Ю.А. Дроздова) большие затраты времени и сил на проведение научных исследований и научно-организационную работу (В.А. Ткаля).

Основными задачами совместной лаборатории на ближайшее будущее являются:

- подготовка высококвалифицированных кадров для НовГУ через аспирантуру, докторантуру и стажировки;

- проведение международных семинаров по актуальным проблемам физического материаловедения и развития структурных исследований;

- расширение сотрудничества с близкими по тематике исследований подразделениями отечественных и зарубежных университетов и институтов РАН.

Руководство ФТИ РАН благодарит Вас и администрацию НовГУ за внимание к лаборатории и надеется на дальнейшую поддержку совместной работы, в том числе при проведении Второго международного семинара "Современные методы анализа дифракционных данных".