Вестник НовГУ

Вестник НовГУ > 2013 > №75 Т.2 > Окунев А.О., Верозубова Г.А., Стащенко В.А. Рентгенотопографический контраст от краевых дислокаций в монокристаллах ZnGeP2

Окунев А.О., Верозубова Г.А., Стащенко В.А. Рентгенотопографический контраст от краевых дислокаций в монокристаллах ZnGeP2

УДК 539.2:548.4:548.73
О к у н е в А. О., В е р о з у б о в а Г. А., С т а щ е н к о В. А. Рентгенотопографический контраст от краевых дислокаций в монокристаллах ZnGeP2 // Вестн. Новг. гос. ун-та. Сер.: Физико-математические науки. 2013. № 75. Т.2. С.89-95. Библиогр. 12 назв. Ил.8.

К л ю ч е в ы е с л о в а: рентгеновская топография, эффект Бормана, контраст, монокристалл, полупроводник, дефект, дислокация, моделирование

Выявлены и интерпретированы рентгенотопографические изображения в виде розеток контраста от краевых дислокаций системы скольжения {1 10}<110> в монокристаллах ZnGeP2 при различных условиях дифракции. Проведено моделирование изображений краевых дислокаций в условиях эффекта Бормана для случаев, когда вектор дифракции параллелен и перпендикулярен плоскости скольжения дислокации. Обсуждаются механизмы формирования дислокационного контраста.
-----------------------------------------------------------------------------
UDC 539.2:548.4:548.73
O k u n e v A. O., V e r o z u b o v a G. A., S t a s h c h e n k o V. A. X-ray topography contrast of edge dislocations in ZnGeP2 single crystals // Vestnik NovSU. Issue: Physico-Mathematical Sciences. 2013. № 75. V.2. P.89-95. The reference list 12 items, 8 fig.

K e y w o r d s: x-ray topography, Borrmann effect, contrast, single crystal, semiconductor, defect, dislocation, simulation

X-ray topography images in the form of contrast rosettes of edge dislocations of the {1 10}<110> slip system in ZnGeP2 single crystals obtained under different diffraction conditions are identified and interpreted. The simulation of images of edge dislocations under the Borrmann effect was carried out in cases where the diffraction vector is parallel or perpendicular to the dislocation slip plane. The mechanisms of dislocation contrast formation are discussed.

Загрузить (2543 КБ)