Почтовый адрес: Россия, 173003, г. Великий Новгород, ул. Б.С.-Петербургская, 41, Центр развития публикационной активности НовГУ.
Тел.: 8 (8162) 33-88-30;
Факс: (8162) 97-45-26.
E-mail: eNotes@novsu.ru
Postal address: Russia, 173003, Veliky Novgorod, Yaroslav-the-Wise Novgorod State University, B.Sankt-Peterburgskaya St, 41 Bldg., Editorial Office.
Tel. (8162) 33-88-30
Fax (8162) 97-45-26
|
|
Язык программирования R, благодаря своим особенностям, позволяет реализовывать любые статистические методы, в том числе и в области управления качеством. Помимо пакетов, специально разработанных под задачи управления качеством, R содержит стандартные функции, реализующие основные статистические методы управления качеством. Статья рассматривает один из методов— проверку статистических гипотез, а также способы визуализации данных на примере оценки влияния топологии на параметры полевого транзистора с барьером Шоттки. В статье приводятся рекомендации по выполнению процедуры оценки статистической значимости влияния вносимых изменений в технологический процесс или конструкцию прибора на его характеристики или на процент выхода годных с использованием языка программирования R.
Ключевые слова: статистический метод, язык программирования R, полевой транзистор с барьером Шоттки, статистическая значимость, проверка статистических гипотез
R is a programming language for statistical analysis, including methods of quality control. In addition to the packages, designed specially for quality control tasks, R contains standard functions that perform basic statistical methods of quality control. The article deals with one of these methods — statistical hypothesis testing, as well as methods of data visualization using an example of impact assessment of topology on the Schottky-field-effect transistor`s parameters. The article gives some recommendations on the implementation of the impact significance assessment of the changes in technological process or device structure on its characteristics or the yield value using R.
Keywords: statistical method, programming language R, Schottky-field-effect transistor, statistical significance, statistical hypothesis testing
Свидетельство о регистрации (548 КБ) |
Заключение экспертного совета (80 КБ) |
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция — Некоммерческое использование») 4.0 Всемирная.
Регулярные выпуски журнала выходят ежеквартально, не менее 4 раз в год. Возможен выход специальных выпусков журнала.